서울경찰청은 휴대전화 성능 시험기기 생산 회사에 다니면서 기술정보를 빼낸 혐의로 37살 이모씨를 구속했습니다.
이씨는 서울 문래동의 휴대전화 성능 시험기기를 생산하는 회사에서 간부로 일하며 두 차례에 걸쳐 설계도면 등 기술정보를 빼낸 혐의입니다.
경찰은 이씨가 훔친 기술을 이용해 경기도 부천에 동종업체를 차리고 최근까지 5차례에 걸쳐 휴대전화 성능 시험기기를 만들어 모두 5천5백만 원을 챙겼다고 말했습니다.
'회사기술 빼내 창업' 간부 적발
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